隨著通用/AI芯片的算力越來越強,數據通信芯片的速率越來越高,這類芯片在量產測試過程中,會面臨嚴重的發熱問題,如果處理不當,會給芯片的封裝和測試tooling帶來嚴重的破壞。
芯云半導體在高功耗測試領域,從Tooling設計到量產管控,有豐富的經驗,可以處理在FT/BI/SLT過程中遇到的各種溫控問題。
版權所有 杭州芯云半導體集團有限公司