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系統級測試
System Level Test
隨著晶體管密度和尺寸不斷提升，芯片功能和應用場景均越來越復雜，傳統的FT（Final Test) 已無法滿足終端客戶對FDPPM的要求。
芯云半導體有豐富的系統級產品測試(System Level Testing, SLT) 經驗， 可滿足客戶不同產品尺寸以及溫控場景需求。
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